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产品名称:芯片辐射发射测试系统

依据标准:IEC61967-3芯片电磁发射测试,150kHz-1GHz,第三部分,辐射发射测试:表面扫描法。

系统组成:扫描仪,近场探头,芯片夹具控制软件及频谱仪。各组成性能指标如下所示:

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